Thiết bị đo từ trường Hioki FT3470-51

Giới thiệu thiết bị đo từ trường Hioki FT3470-51

Máy đo từ trường Hioki FT3470-51 được thiết kế để đo mật độ từ thông và mức độ phơi nhiễm từ trường, và có thể được sử dụng để đánh giá sự phù hợp để ICNIRP 2010 và IEC / EN62233 và trong nghiên cứu về phơi nhiễm từ trường. Mật độ thông lượng Hioki FT3470-51 biện pháp từ tính và tiếp xúc với từ trường sinh ra bởi các sản phẩm được sản xuất tại một trang web của khách hàng hoặc sản xuất bởi các thiết bị trong một môi trường khách hàng, và đi kèm với 1 bộ cảm biến.

Thông số kỹ thuật

Các tính năng chính của thiết bị đo từ trường Hioki FT3470-51

• Phù hợp với các hướng dẫn của ICNIRP năm 2010 cũng như các tiêu chuẩn khác có liên quan để kiểm tra đánh giá
• Tương thích với IEC 62.110 / IEEE 644 và IEC 62233.
• Đi kèm với 100 cm2 cảm biến cần thiết cho IEC / EN 62.233 tiêu chuẩn phân tích
• Đơn vị hiển thị người dùng lựa chọn (T, A / m, và G)
• Khả năng hoạt động trực quan cho phép đo dễ dàng
• Hioki FT3470-51 cung cấp đi kèm với phần mềm ứng dụng máy tính

Không có catalog nào cho sản phẩm này.